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QFN56翻盖探针测试座老化夹具治具socket带热沉接地pad针

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参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号:
  • 品牌:
  • 产品类别:夹具
  • 所在地:深圳市
  • 信息完整度:
  • 样本:
  • 更新时间:2024-12-05 12:21:46
  • 浏览次数:3
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  • 经营模式:其他
  • 商铺产品:841条
  • 所在地区:
  • 注册时间:2015-03-03
  • 最近登录:2023-11-17
  • 联系人:
产品简介

①结构:翻盖式;②外壳材质:铝合金;③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;④核心部件材质:peek陶瓷;⑤额定电流:1A;⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大;⑦接触电阻:<100mΩ;⑧环境温度:-55℃~155℃;⑨机械寿命:100000+;

详情介绍
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大;
⑦接触电阻:<100mΩ;
⑧环境温度:-55℃~155℃;

⑨机械寿命:100000+;


一、QFN56老化测试座适配IC规格:

QFN56封装尺寸规格


二、QFN56老化测试座设计参考图:

QFN56测试座示意图

QFN56测试座侧面图


三、QFN56老化测试夹具产品实拍图:

QFN56老化夹具

QFN56老化治具

QFN测试座

QFN封装芯片测试座

QFN芯片测试座

QFN56测试座



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