考古检测X荧光光谱仪技术指标

产品名称：Skyray X荧光光谱仪 
型号：EDX3600L      
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99% 
分析精度：0.05% 
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
测量镀层：镀层厚度测量zui薄至0.01微米
测量对象状态：粉末、固体、液体 
测量时间：60s—200s  
管压：5KV—50KV 
管流：50uA—1000uA 
输入电压：AC 110V/220V  
消耗功率：200W   
环境温度: 15-26℃  
相对湿度: ≤70% 

考古检测X荧光光谱仪标准配置

超薄窗大面积的*SDD探测器
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍
可自动切换型准直器和滤光片 
光路增强系统 
内置高清晰摄像头
加强的金属元素感度分析器 
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
面光源
放大电路
高低压电源
X光管
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型。
三重安全保护模式
外观尺寸： 800×710×1360 mm 
样品腔尺寸：600×600×1000mm
重量：280kg

考古检测X荧光光谱仪应用领域

古陶瓷
古青铜器
古首饰
镀层测厚