X荧光光谱仪性能特点

专业贵金属检测、镀层厚度检测 
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
一次可同时分析24个元素
针对不同样品可自动切换准直器
智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型 
相互独立的基体效应校正模型 
多变量非线性回收程序

X荧光光谱仪技术指标

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元素分析范围：从钾（K）到铀（U） 
测量对象：固体、液体、粉末 
测量精度:0.05%
分析检出限：可达ppm
分析含量：一般为ppm－99.9％ 
多次测量重复性：0.1％ 
*工作稳定性：0.1％ 
温度适应范围：15℃－30℃ 
测量湿度：≤70％ 
测量时间：60－300秒 
电源：交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)

X荧光光谱仪标准配置

单样品腔 

准直器（8个）自动切换装置（范围0.1mm－0.8mm）
正比计数盒探测器。 
信号检测电子电路。 
高低压电源。 
X光管。 
计算机及喷墨打印机

X荧光光谱仪应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测 
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业
尤其是黄金及黄金饰品的含量检测