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SWA-20US SiC激光退火设备

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参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号:SWA-20US
  • 品牌:
  • 产品类别:退火设备
  • 所在地:上海
  • 信息完整度:
  • 样本:
  • 更新时间:2023-12-14 19:37:32
  • 浏览次数:64
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上海德竹芯源科技有限公司

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  • 经营模式:其他
  • 商铺产品:5条
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  • 最近登录:2023-12-09
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产品简介

SWA-20US 适用晶圆尺寸 6 寸及以下晶圆激光退火,具有晶圆厚度检测、激光功率检测、激光束图形检测、激光焦点检测功能。

详情介绍

适用晶圆尺寸:6 寸及以下晶圆,同时兼容不小于 10mm×10mm 的碎片

适用晶圆厚度:100μm ~ 1000μm 厚度的晶圆的激光退火

激光模式:UV-YAG 激光器,波长 355nm

激光器脉冲宽度:60ns(@20kHz)

激光器标准寿命:20000h

激光束尺寸:Φ100um ± 5um

激光扫描方法:Galvano 高速扫描方式,光斑在扫描方向上的重叠率、行与行之间的重叠率均可调节

工艺腔室:室温,工艺腔室用 N2 或 Ar 氛围保护,带有氧气浓度监控,通过软件控制实现氧气浓度达到 100ppm 以内才启动工艺的功能

生产能力:>4wph@6inch(光斑在扫描方向上的重叠率 67、行与行之间的重叠率 50% 的条件下)

非照射面温度抑制:加工过程中,非照射面的温度 ≤ 100℃

选择性退火功能:可通过电脑软件控制,对晶圆/样片进行分区域不同条件选择性激光退火


用户的课题

兼顾晶圆薄片化及生产性的光源选定

针对 SiC 功率器件薄片化应用下光源(Green/UV带来的热损伤

SiC 功率器件的热损伤与生产性之间的平衡


已解决问题、可达成目标

通过模拟实验对照射条件的事先研究

验证照射测试的模拟实验结果,提案理想条件

SiC 用激光退火设备光源选定之要点


激光光源选定时的要点

器件的厚度

Green 激光相较于 UV 激光,因为对于金属来说吸收率较低,作为退火条件,要求用较高的辐射强度进行照射。因此一般情况下,对于比 100~120μm 更薄的器件,更容易受到热影响。



激光对SiC的穿透深度

对 SiC 晶圆进行激光照射时,不同波长会导致穿透深度产生差异。使用 Green 激光时,激光穿透至表面(图案面)。这使得成膜工序中金属膜(Ni/Ti)有缺陷时,便有图案被破坏的风险。


金属膜(Ni)的吸收率

激光的波长不同,金属膜的吸收率也有所不同。若要求同样的退火结果,反射率低(=吸收率高)只需投入较少能量。反之能量投入越多,越容易对器件产生热影响。



生产性

基于器件结构和金属的成膜条件,其照射条件将有所不同,一般情况下,Green 激光的生产性比 UV 激光高出 2.5~3倍。

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