手动C成像扫查器SCQcscan－1扫查器可以实现带有位置信息反馈的XY两轴自由滑移运动，可以配套带有两编码器接口的超声仪器使用，配合不同探头适用于用于平板类金属、复合材料接触式C成像探伤。
- XY两轴分辨率可选，为0.1mm/step。
- 根据需要可以选择磁性或者真空吸附的底座以适应不同材料需要。
- 该扫查器配合本公司的CTS-1008plus仪器、CTS-04PC超声卡可形成完整的超声成像检测系统。
| 规格 | 可选配件 | |
| 行程X，Y | 300×250（mm） | 耦合液循环模块 |
| 外形尺寸（长×宽×高） | 580×480×150 | |
| 重量 | 3.5kg |
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