鸿怡电子生产的SOP28pin-1.27mm-TP01NT开尔文老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
该款芯片老化座适用于SOP28pin芯片测试、烧录、老化用，适用于ATE自动机台高速测试
产品测试简介：
用于数字芯片的四线法测试，开尔文测试
长度和宽度没有限制，可以适配1.27mm间距的2/4/6/8/10/12/14/16/18/20/24/28pin引脚的芯片测试，
2.54mm间距的支持2/4/6/8/10/12/14pin引脚的芯片测试
该款测试座单个pin脚支持过流1A，
适用工作环境：-55°~150°
接触阻抗小于50毫欧
适用寿命：15000次
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