ZeeScan 200A 三维数字显微镜

    Zeescan（法国）200A 通过显微镜C-MOUNT 接口，扩展出强大的3D图像平台。ZeeScan兼容通常的工业、材料显微镜和立体显微镜。实现：3D表面分析和测量、物证检验、文字笔迹鉴定、痕迹检测、形貌和粗糙度测量、自动深度叠加、景深扩展、3D自动合成等功能。

一、应用

• 激光打标钻孔雕刻
• 故障分析
• 航空学
• 汽车工业
• 摩擦学
• 金属模具
• 质检维护
• 金属，油漆和涂料，陶瓷，聚合物
• 半导体材料
• 宝石学
• 博物馆、考古
• *、司法取证
• 高校、科研机构、鉴定中心

ZeeScan用于正置显微镜              ZeeScan用于立体显微镜             ZeeScan用于荧光显微镜

二、特点

高分辨率数字图像  ZeeScan光学组件能提供清晰明快的高分辨率数字图像

多种图像功能 自动聚焦 深度测量 Z轴图像序列 景深扩展 三维重建

ZeeScan能完成标准的正置或倒置显微镜的所有材料应用的关键任务

3D表面测量 面形 表面粗糙度 波浪 阶梯高度与复杂、笨重和昂贵的系统相比，ZeeScan是一种快速而廉价的表面形貌测量方法。

三、GetPhase软件

GetPhase 提供图像自动采集，2D/3D 图像分析，文档和报告等工具

强大的图像工具

• 图像浏览和显示
• 高分辨率Z轴图像序列
• *的自动图像融合（景深扩展）
• 深度测量或3D重建。
• 2D测量和图像记录、报告

快速精确的3D表面测量

• ZeeScan非常快速和简单实现3D图像获取和测量。
• 非接触式光学表面分析具有高度可重复性：
• 微米或纳米级3D表面分析
• 具有从光滑到粗糙表面的测量能力
• ISO粗糙度和阶梯高度测量
• 高效的图像获取和处理

四、ZeeScan性能参数

Z轴扫描范围和步长参数
Z轴范围和步长与物镜有关，左侧为标准物镜放大倍数的典型参数（1X视频接口时）

其他放大倍数时，按以下公式计算：

Z轴范围=16mm/(物镜倍数)2

Z轴分辨率=Z轴范围/2000

Z轴步长精度=1%，重复性=0.35%

粗糙度测量参数

共12项分析参数，包括经常使用的Ra (Sa), Rq (Sq), Rz(Sz)参数。符合ISO 4287、25178、DIN4768标准。

测量范围：Ra, Rq: 0.01-500μm，测量精度：≤±10%，重复性：≤6%

附字迹书写顺序检测（文检）案例：