国产原子力显微镜（一）

FM-Nanoview 6800AFM

简介：原子力显微镜应用：其应用范围十分广泛，利用原子力显微镜可以轻松得到样品的表面观察、尺寸测定、表面粗糙度、表面颗粒度分析、表面电势梯度和电荷分布、表面磁畴、生物细胞的表面结构等。 

    可测样品有：薄膜、纳米陶瓷、石墨烯、复合材料、纳米复合材料、玻璃、硅片、共聚物、电池材料、半导体材料、纳米纤维、蛋白质、纳米粉体等。

一、主要功能特点

     硬件系统

1. 光机电一体化设计，外形结构简单；
2. 扫描探头和样品台集成一体，抗*力强；
3. 精密激光检测及探针定位装置，光斑调节简单，操作方便；
4. 采用样品趋近探针方式，使针尖垂直于样品扫描；
5. 伺服马达手动或自动脉冲控制，驱动样品垂直接近探针，实现扫描区域精确定位；
6. 高精度大范围的样品移动装置，可自由移动感兴趣的样品扫描区域；
7. 高精度大范围的压电陶瓷扫描器，根据不同精度和扫描范围要求选择；
8. 带光学定位的CCD观测系统，实时观测与定位探针扫描样品区域；
9. 采用伺服马达控制CCD自动对焦功能；
10. 模块化的电子控制系统设计，便于电路的持续改进与维护；
11. 集成多种扫描工作模式控制电路，配合软件系统使用。
12. 带温度显示。

    软件系统

1. 可观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像；
2. 具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式；
3. 可自由选择图像采样点为256×256或512×512；
4. 多通道图像同步采集显示，实时查看剖面图；
5. 多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS（f-RMS）、RMS-间隙（RMS-Z）测量功能；
6. 可进行扫描区域偏移、剪切功能，任意选择感兴趣的样品区域；
7. 可任意选择样品起始扫描角度；
8. 激光光斑检测系统的实时调整功能；
9. 针尖共振峰自动和手动搜索功能；
10. 可任意定义扫描图像的色板功能；
11. 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能；
12. 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正；
13. 支持样品图片离线分析与处理功能。

二、主要技术指标

1. 工作模式：接触、轻敲、可扩展相位、摩擦力、磁力或静电力
2. 样品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm
3. zui大扫描范围：横向50um，纵向5um
4. 扫描分辨率：横向0.2nm，纵向0.05nm
5. 扫描速率：0.6Hz~4.34Hz
6. 扫描角度：任意
7. 样品移动范围：0～50mm
8. 马达趋近脉冲宽度：10±2ms
9. 光学放大倍数：10X
10. 光学分辨率：1um
11. 图像采样点：256×256，512×512
12. 扫描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A
13. 数据采样：14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样
14. 反馈方式：DSP数字反馈
15. 反馈采样速率：64.0KHz
16. 计算机接口：USB2.0
17. 运行环境：运行于Windows98/2000/XP/7/8操作系统

原子力显微镜（二）

FM-Nanoview 1000AFM

         简介：原子力显微镜应用：其应用范围十分广泛，利用原子力显微镜可以轻松得到样品的表面观察、尺寸测定、表面粗糙度、表面颗粒度分析、表面电势梯度和电荷分布、表面磁畴、生物细胞的表面结构等。 

    可测样品有：薄膜、纳米陶瓷、石墨烯、复合材料、纳米复合材料、玻璃、硅片、共聚物、电池材料、半导体材料、纳米纤维、蛋白质、纳米粉体等。

• 主要功能特点

硬件系统

1、主机与控制箱分开，外形结构简单；

2、扫描探头和样品台集成一体，抗*力强；

3、精密激光定位装置，使用时无需调节光斑位置；

4、采用精密探针定位模块，更换探针简单方便；

5、采用样品趋近探针方式，使针尖垂直于样品扫描；

6、伺服马达手动或自动脉冲控制，驱动样品垂直接近探针，实现扫描区域精确定位；

7、高精度大范围的样品移动装置，可自由移动感兴趣的样品扫描区域；

8、高精度大范围的压电陶瓷扫描器，根据不同精度和扫描范围要求选择；

9、带光学定位的CCD观测系统，实时观测与定位探针扫描样品区域；

10、模块化的电子控制系统设计，便于电路的持续改进与维护；

11、集成多种扫描工作模式控制电路，配合软件系统使用；

12、弹簧悬挂式防震方式，简单实用，抗*力强。

13、带温控、湿控功能

软件系统

13、可自由选择图像采样点为256×256或512×512；

14、多通道图像同步采集显示，实时查看剖面图；

15、可进行扫描区域偏移、剪切功能，任意选择感兴趣的样品区域；

16、可任意选择样品起始扫描角度；

17、激光光斑检测系统的实时调整功能；

18、可任意定义扫描图像的色板功能；

19、支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能；

20、支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正；

21、支持样品图片离线分析与处理功能。

• 主要技术指标

1. 工作模式：接触、轻敲，可扩展相位、摩擦力、磁力或静电力
2. 样品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm
3. zui大扫描范围：横向20um，纵向2um

25、扫描分辨率：横向0.2nm，纵向0.05nm

26、扫描速率：0.6Hz~4.34Hz

27、扫描角度：任意

28、样品移动范围：0～20mm

29、马达趋近脉冲宽度：10±2ms

30、光学放大倍数： 4X

31、光学分辨率：2.5um

32、图像采样点：256×256，512×512

33、扫描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A

34、数据采样：14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样

35、反馈方式：DSP数字反馈

36、反馈采样速率：64.0KHz

37、计算机接口：USB2.0

38、运行环境：运行于Windows98/2000/XP/7/8操作系统