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AT510X40 多路电阻测试仪。从1μΩ～3MΩ，Z大显示3999数。使得多路测试周期高达50ms/次，AT510X20 40路电阻测试仪为您提供每秒钟高达800个器件的测试。
| AT510X40 40路电阻测试仪 | |||||||||||||||||||||||||
| AT510X40 是一种高精度宽量程、超高扫描速度、采用高性能微处理器控制的多路电阻测试仪。为您量身定做的多路电阻测试仪，定制量程，从1μΩ～3MΩ，zui大显示3999数。受益于安柏*的电阻测量技术，使得多路测试周期高达50ms/次，AT510X20 40路电阻测试仪为您提供每秒钟高达800个器件的测试。 配备Handler接口，将多路测试结果同时输出给PLC。 | |||||||||||||||||||||||||
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| 技术规格 | |||||||||||||||||||||||||
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| 性能特征 | |||||||||||||||||||||||||
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| 应用 | |||||||||||||||||||||||||
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