技术参数：
型号 | XH-313-P1 |
测量范围 | 0～4mm，分度值0.001mm |
示值误差 | 0.05% |
接触面积 | 1000±20）mm2, 测量面直径2.5--10mm(薄膜) |
接触压力 | 2±0.1 kPa，：0.5-1.0N （薄膜） |
平 行 度 | ≤0.035mm ，≤0.005mm（薄膜） |
同心度 | 4点定位一次成型 |
垂直平行度控制 | 52mm垂直平行定位 |
横向平行度控制 | (R1+R2)32mm横向平行定位 |
产品规格如有更变，恕不另行告之，请以实际报价为准！
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技术参数：型号XH-313-P1测量范围0～4mm，分度值0.001mm示值.05%接触面积1000±20）mm2,测量面直径2.5--10mm(薄膜)接触压力2±0.1kPa，：0.5-1.0N（薄膜）平 行 度≤0.035mm ，≤0.005mm（薄膜）同心度4点定位一次成型垂直平行度控制52mm垂直平行定位横向平行度控制(R1+R2)32mm横向平行
技术参数：
型号 | XH-313-P1 |
测量范围 | 0～4mm，分度值0.001mm |
示值误差 | 0.05% |
接触面积 | 1000±20）mm2, 测量面直径2.5--10mm(薄膜) |
接触压力 | 2±0.1 kPa，：0.5-1.0N （薄膜） |
平 行 度 | ≤0.035mm ，≤0.005mm（薄膜） |
同心度 | 4点定位一次成型 |
垂直平行度控制 | 52mm垂直平行定位 |
横向平行度控制 | (R1+R2)32mm横向平行定位 |
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