包装袋整体耐破压力测试仪

PARAM 博每　　LSSD-01 泄漏与密封强度测试仪

LSSD-01 包装袋整体耐破压力测试仪适用于GB 10440（包装用塑料复合膜、袋干法复合、挤出复合）、ASTM F1140等相关标准，适用于各种热封工艺形成的软包装件各热封边的封口强度、热封质量、以及整袋涨破压力、密封泄漏性能的量化测定，各种塑料防盗瓶盖密封性能的量化测定，各种软管整体密封性能、耐压强度、帽体连接强度、脱扣强度、热封边封口强度、扎接强度等指标的量化测定；同时也可对软包装袋所使用材料的抗压强度、耐破强度等指标，瓶盖扭力密封指标、瓶盖连接脱扣强度、材料的应力强度、以及整个瓶体密封性、抗压性、耐破性等指标进行评估分析。

通过测试有效地比较和评估软包装件的密封性能和密封参数。在评估相关技术参数是否合适方面，它可提供科学数据；同时它亦可进行经跌落、耐压试验后的试件的密封性能测试，可用于食品包装QS认证用专业仪器。

技术参数
测试范围：0～250kPa;0～36.3 psi（可定做）
气源压力：0.4MPa～0.9MPa

了解详细信息,敬请致电，，gz02@labthink.cn,本信息由济南兰光广州代表处　：　孔健（女士）发布。