激光散射法是测定热物性的*佳方法：

激光散射法导热系数仪主要技术参数：

LFA 467 HyperFlash® - 技术参数

Ø  温度范围：-100°C ... 500°C，单一炉体

Ø  非接触式测量，IR 检测器检测样品上表面升温过程

Ø  数据采集速率：高达 2MHz（包括半升温信号检测，及 pulse mapping 技术）-- 对于高导热及薄膜样品，采样时间（约为半升温时间 10 倍）可低至 1ms，样品厚度*薄可至 0.01 mm 以下（取决于具体的导热系数）

Ø  热扩散系数测量范围：0.01 mm²/s ... 2000 mm²/s

Ø  导热系数测量范围：< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)

Ø  样品尺寸：
- 直径 6 mm ... 25.4 mm（包括方形样品）
- 厚度 0.01 mm ... 6 mm（样品的厚度要求取决于不同样品的导热性能）

Ø  16 个样品位的自动进样器

Ø  20 多种支架类型

Ø  丰富的测量模式，适应各种类型的样品。如各向异性材料，多层模式分析，薄膜，纤维，液体，膏状物，粉末，熔融金属，压力下的测试，等等。

Ø  Zoom Optics 优化检测器的检测范围（砖利技术）

Ø  砖利保护的 pulse mapping 技术（US 7038209, US , DE – approximation of the pulse），用于脉冲宽度修正，可以提高比热值的测量精度

Ø  气氛：惰性、氧化性、静态/动态、负压

Ø  遵从如下标准: ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, 等.

LFA 467 HT HyperFlash^® - 技术参数

Ø  温度范围：RT ... > 1250°C，单一炉体

Ø  *大升温速率：50 K/min

Ø  红外检测器：InSb（RT ... >1250°C，可配备液氮自动充填设备）

Ø  数据采集速率：*大 2 MHz（同时适用于红外检测器与 pulse mapping 通道）

Ø  热扩散系数范围：0.01 mm²/s ... 2000 mm²/s

Ø  导热系数：< 0.1 W/(m*K) ... 4000 W/(m*K)

Ø  砖利的 pulse mapping 技术：用于有限脉冲修正，以及提高比热测量精度

Ø  气氛：惰性，氧化性，静态与动态

Ø  真空：10^-4 mbar

Ø  样品支架：适合圆形与方形样品

Ø  气氛控制：MFC 与 AutoVac