产品描述
InSEM HT高温测试系统可在真空环境中对压头和样品分别独立进行加热,并与许多SEM/FIB工作室或独立真空工作室兼容。 系统温度可高达800°C,因而可以模拟现场温度条件,以获得可靠一致的测试数据。钼支架上的单晶碳化钨压头经过优化,可用于高温测试应用,并可提供多种几何形状。
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InSEM HT高温测试系统可在真空环境中对压头和样品分别独立进行加热,并与许多SEM/FIB工作室或独立真空工作室兼容。 系统温度可高达800°C,因而可以模拟现场温度条件,以获得可靠一致的测试数据。钼支架上的单晶碳化钨压头经过优化,可用于高温测试应用,并可提供多种几何形状。
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