X 射线荧光测试仪，涂层测厚仪，带有可编程的 X/Y平台和Z轴，涂层测厚仪 北京时代，可自动测量镀层厚度和分析材料组分
特点
- 配备了半导体探测器，枪式涂层测厚仪，由于有更好的信噪比，武汉涂层测厚仪，能更精确地进行元素分析和薄镀层测量
- 使用微聚焦管可以测量较小的测量点，牛津涂层测厚仪，但因为其信号量较低，麦考特涂层测厚仪，不适合测量十分细小的结构
- 底部C型开槽的大容量测量舱
- 有弹出功能的快速、可编程XY平台
典型应用领域
- 镀层和合金的材料分析（还适用于薄镀层和低含量成分）
- 来料检验，荧光涂层测厚仪，生产监控
- 研究和开发
- 电子工业
- 接插件和触点
- 黄金、珠宝和钟表工业
- 可以测量数纳米薄的镀层，防腐涂层测厚仪，如印刷线路板和电子元器件上的Au和Pd镀层
- 痕量元素分析
- 在有“高可靠性"要求的应用中确定铅（Pb）含量
- 硬质镀层分析
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