synos简单光学测量的光学系统 M-Scope J型
用于光学测量的简单光学系统 M-Scope J型是一种用于光照射测量和光接收测量的光学系统。 它是一个小型单目外壳，适合集成到设备中。 配备用于同轴图像观察的图像探测器连接端口，可以轻松对齐光照射位置和光接收位置。 光学系统可以根据测量目标和要测量的波长选择和安装最合适的透镜和光学元件。 这使得在最佳光学条件下进行各种测量成为可能。
可广泛应用于光电探测器的入射测量、发光元件的光接收测量、生物细胞的光入射测量。
除标准型外，M型示波器J型还具有偏振依赖对策型M示波器J/PF型。
产品特点
配备光纤连接端口，用于光学参数测量。 它可以以多种方式使用，例如使用光纤输出型光源将测量光引入样品，将测量光中继到光纤以及使用光纤接收和测量光。
测量光照射测量
待测样品的表面由来自测量光源的精确测量光照射。
测量光敏测量
从样品中测量的光被中继到光纤，以测量功率、波长和响应等光学特性。
配备图像检测器连接端口。 光照射测量期间测量的光照射位置和光接收测量期间测量的光测量位置可以用同轴观测相机直接观察。
它配备了同轴观测相机端口。 当测量光照射到样品上时，通过同轴观察照射位置，可以将测量光可靠地照射到样品针点。 此外，当接收来自样品的光时，通过同轴观察光接收测量位置，可以将来自测量目标的光可靠地中继到光纤。 此外，可以直接观察到发光状态。
产品主要用途
测量光照射测量
测量光电二极管的光灵敏度和光响应特性
测量各种光学传感器的光接收灵敏度
测量各种光波导上的光入射引起的插入损耗、传播特性和连续性
光照射半导体器件的失效分析
生物医学应用，例如生物细胞的光照射
此外，通过用测量光照射各种显微样品来测量和分析光学特性
测量光敏测量
测量半导体激光器和VCSEL等激光设备的发射特性
测量从各种光波导接收到的光引起的插入损耗、传播特性和连续性
通过测量各种发光设备的光接收来测量和分析光学特性
此外，通过测量各种发光样品的光接收来测量和分析光学特性
在晶圆级测量和分析各种光半导体器件的光学特性
硅光子器件的研究与开发
光学模块和透镜模块的装配调整和质量评估
此外，光照射/光接收测量，图像测量，检查，一般研究和开发
synos简单光学测量的光学系统 M-Scope J型
产品主要规格
| 光纤端口 |
|
|---|---|
| 辐照和光接收直径 |
|
| 物镜切换 | 单目（通过更换物镜） |
| 目的 | 兼容三丰M-Plan Apo系列（标准） |
| 观察相机端口 中镜头放大倍率 | 1x（典型值） |
| 图像探测器连接端口 最大光学放大倍率 | 标准：100倍（含100倍物镜规格） |
| 同轴落射照明端口 | 标准（外形φ8mm），同轴落射照明装置可选 |
| 调光方式 | 中性密度滤镜（ND滤镜）插入滤光片端口的方法（最多可以同时插入2张） |
| 摄像机支架 | C 接口 |
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