磁粉参考试块（I型磁粉试块）
本品为我司开发的磁粉探伤使用参考试块,按GB/T15822.2-2005及ISO9934-2:2002标准要求进行加工生产而成。本试块是用于确认磁化方向和磁化强度的磁粉参考试块。可广泛应用于磁粉探伤时,对磁粉或磁悬液的性能及灵敏度检验。
使用时无需进行磁化,只要将荧光磁粉或荧光磁悬液直接喷洒在MT-I型试块上,在紫外线灯的照射下即可得到清晰地显示。如果用于检验非荧光磁粉和非荧光磁悬液时,在试块上喷洒薄薄一层的FA-5型反差增强剂,这样显示的痕迹非常清晰。
本试块表面的缺陷分为两种：猝火裂纹和磨消裂纹。本试块的材料：90MnCrV8，表面硬度：63HRC~70HRC。磁化方式1000A直流电中心导体充磁。符合标准：GB/T15822.2-2005及ISO9934-2:2
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