便携式膜厚测试仪CMI250X射线荧光测厚仪
深圳市方源仪器提供的便携式膜厚测试仪CMI250X射线荧光测厚仪有着测量结果、日期及时间、统计分析等储存后可通过连接线发送到您的电脑技术。便携式膜厚测试仪CMI250X射线荧光测厚仪还支持双功能技术磁感应和涡流感应，涡流技术测量如铝、黄铜或铜等有色金属上的非导电涂层：特富龙、搪瓷、环氧树脂、阳极氧化膜、粉末涂料、油漆等。磁感应技术用于测量钢铁底材上的非磁性涂层：锌、镉、油漆、涂料等。
便携式膜厚测试仪CMI250X射线荧光测厚仪参数：
| 产品名称：膜厚测试仪CMI250 产品型号：CMI250 产品产地：美国 测试范围：0.001-2.04mm（0.1-80mils）、0.001——1.52mm（0.1-60mils) 测试精度：参考不同的标准片±（2µm+3%读数） 测试时间：2S 保修时间：1年 测试标准： （磁感应）符合AST M B499和B530、DIN 50981、ISO 2178及BS 5411标准第9和11部分的计量方法 （涡流感应）符合AST M B244和B529、DIN 50984、ISO 2360及BS 5411标准第3部分的计量方法 |
便携式膜厚测试仪CMI250X射线荧光测厚仪产品优势： | |
--自动识别底材 | |
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