光学薄膜轴向测量仪

( NMV-FAM) 

(本图仅供参考,具体以实物为准)

仪器用途：

NMV-FAM光学薄膜轴向测量仪采用偏振光光电探测技术对透过材料的偏振光进行高精度采集测量，从而计算出偏振材料主轴相对机械坐标的夹角，用于指导生产出符合客户要求角度的偏振材料。

对于传统偏振材料的裁切，其需求角度和裁切角度通常会有一定的偏差，有时会达到0.5°、1°甚至更大，导致后续产品的加工中造成品质差异。偏振材料不同轴角度的组合会带来输出光强的不一致，客户直观体验出现明显差异。而吸收轴测量仪目前阶段只能针对偏振片进行测量，其他光学膜如补偿膜、离型膜就无法进行检测。

NMV-FAM光学薄膜综合测量仪通过双偏振模组机构，实现了一台设备对偏光片和其他光学薄膜轴向角度的综合测量。

检测对象

偏光片

其他光学薄膜

仪器特点：

减少人为误差

预先选定测量样片类型，一台设备兼容检测偏光片及其他光学薄膜吸收轴角度

仪器参数：

检测原理：偏振光光电探测技术                                               

偏光片测量范围：0-180°；

离型膜测量范围：0-90°；

补偿膜测量范围：0-90°；

精度/标准偏差： 约±0.05°

单点测试时间：约10s

分辨率： 约0.02°

视野范围：φ30mm

构成： 台式电脑 （含测量软件一套）、专用测量本体及导轨一套、电缆线等             

测量形状：长≤2600mm，100mm≤宽≤200mm；

光源：LED 632.8nm；

电源：AC 100-240V 50/60Hz；

温度：15℃~25℃

湿度：40%-80% 无结露

尺寸：3550*700*1150mm；

重量：约280kg；

包装： 木箱

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