LET-2000系列半导体动态参数测试系统 LET-2000D是满足IEC60747-8/9、JESD24标准的半导体动态参数分析系统。旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要半导体动态参数的场合。特别对于应用第三代半导体的需要，LET2000D有着较高的系统带宽，可以有效的测量出实际的器件参数。 - 双脉冲测试法可以测试 IGBT 模块和驱动的性能，获取 IGBT 稳态和暂态过程中的主要参数，用以评估IGBT 模块和驱动的性能，并进行电路参数的优化。 - 具体包括测试 IGBT 的实际工况、开关损耗、关断电压尖峰、开关暂态震荡情况、二极管反向恢复电流、杂散电感影响、吸收电路影响、 短路保护功能等， 可以通过测试进行优化栅极电阻 RGON 和 RGOFF 参数、吸收电路参数、开关频率设置等，并可以进行 IGBT 模块的并联和串联实验。
- 采用先发布的12 bit 示波器：正确反映波形的 细节，并准确计算出参数
- 采用先发布的光隔离、高CMRR探头系统，解 决SIC/GAN的测试难点
- 高带宽的电压和电流探测，弥补一般系统对SIC/GAN 的测量要求
- 可以满足上/下管测试，避免频繁连接探头
- 电压覆盖范围宽、并可以再次扩展
- 器件驱动设计支持SIC/GAN器件
- 系统带宽：>400MHz
-系统可以定制
软件特点：
-测量参数齐全：开关参数、短路参数、反向恢复 参数
-支持器件类型多：单管/模块，MOSFET、IGBT、 FWD、GTR…
-测试方式：单脉冲、多脉冲
- 离线数据分析：既可以在线测量，也可以记录数据 离线分析
- 测试UI符合工程师的使用习惯
- 测量项目及器件支持扩展
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