特点：
1. 用于在持续生产过程中对薄膜、轴带和冲压带上的涂镀层进行连续测量
2. 可按照样品运动方向正确调整测量头的角度
3. 操作简单，设置时间短
4. X射线探测器可以为比例计数管，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器
5. 有定位装置，用于测量多个位置进行测量
6. 根据客户需要专门设计
7. 自动校准
8. 可以快速地从一条生产线上转移到另一条生产线
9. 可方便地集成到质量控制系统和过程控制系统中
典型应用领域：
1. 电镀条带，例如接触点、冲压带
2. 测量热镀锌钢带
3. 太阳能薄膜电池（光伏产业）
4. 薄膜和条带上的金属涂镀层
5. 电子工业及其供应商
6. 生产过程监控
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