产品特点:
- 封装与晶圆锡球接点的开短路测试。
- IC内部的开短路测试。
- IC 内的保护二极体测试。
- Pin to Pin 、Pin to GND 、Pin to VCC 阻抗比对测试。
- Pin to Pin 、pin to GND 、Pin to VCC 电容比对测试。
- IC载板上元器件值的测试 。
- 对IC上电,测试关键点的电压,来检测内部功能。
- 通用GPIB扩展来量测IC关键点波形,频率等参数。
三,不佳IC的故障原因的查找及统计,以便改进设计。
BGA测试仪
深圳市派捷电子科技有限公司
免费会员
目前IC使用率增长随之不佳率及反修率也越来越高,PTI818 BGA测试仪可以测试IC各脚之间开短路,对GND和VCC的clamp diode, 对地及相关脚的电阻及电容,BGA测试仪对IC上电,量测关键点的电压等手段检测出不佳IC,并能对不佳情况进行统计,以便做分析并查找对策。此方式对IC可测率达到98%以上。将是IC测试的实惠快速测试的变革,
三,不佳IC的故障原因的查找及统计,以便改进设计。
BGA测试仪
请选择省份
请输入账号
请输入密码
请输验证码
兴旺宝 设计制作,未经允许翻录必究 .Copyright(C) https://www.xwboo.com,All rights reserved.
以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,兴旺宝对此不承担任何保证责任。
所有评论仅代表网友意见,与本站立场无关。