专为高通量样品制备和3D分析而设计的FIB-SEM
轻松发现和设计材料
- 使用Gemini电子光学系统，您可以从高分辨率SEM图像中提取真实样本信息
- 使用新的Ion-sculptor FIB镜筒以及全新的样品处理方式，您可以大限度地提高样品质量、降低样品损伤，同时大大加快实验操作过程
- 使用Ion-sculptor FIB的低电压功能，您可以制备超薄的TEM样品，同时将非晶化损伤降到非常低
- 使用Crossbeam 350的可变气压功能
- 或使用Crossbeam 550实现更苛刻的表征，大仓室甚至为您提供更多选择
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