概述
在传统微波测试系统硬件基础上，通过集成射频探针台，并对其进行严格的准确的步进控制，以实现对芯片的在片测试。
系统功能及特点
- 集成探针台控制，实现精确的XYZ位移；
- 图形化测试结果实时显示，直观定位缺陷品位置，如下所示
- 注：图中灰色为边缘不完整产品，跳过测试；红色为不合格产品，绿色为合格产品；白色为待测产品。
- 支持人工点击图形，探针台迅速定位功能，便于校准或重测
成都方昇科技有限公司
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概述 在传统微波测试系统硬件基础上，通过集成射频探针台，并对其进行严格的准确的步进控制，以实现对芯片的在片测试
在传统微波测试系统硬件基础上，通过集成射频探针台，并对其进行严格的准确的步进控制，以实现对芯片的在片测试。
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