产品简介
菲希尔Fischer XDV-SDD台式X射线荧光涂层测厚仪 XDV-SDD型仪器是FISCHER产品中性能.强大的X射线荧光仪器之一。它配备了特别加大的硅漂移探测器（SDD）。50mm的探测器窗口确保能快速而精确地测量甚至是小面积的测量点。此外，仪器还配备了各种不同的滤波片，从而能为不同的测量任务建立.优化的激发条件。
详情介绍
特点：
- 配备了高性能的X射线管和大窗口的硅漂移探测器（SDD），能高精度地测量.薄的镀层
- 极耐用的设计结构，能以极出色的*稳定性用于连续测量
- 可编程XY平台和Z轴，用于自动化连续测量
- 拥有实时的视频显示和辅助激光点，使得样品定位变得快速而简便
应用：
镀层厚度测量
- 测量极薄镀层，如电子和半导体产业中厚度小于0.1um的Au和Pd镀层
- 测量汽车制造业中的硬质涂层
- 光伏产业中的镀层厚度测量
材料分析
- 电子、包装和消费品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令对有害物质（如重金属）进行鉴别
- 分析黄金和其他贵金属及其合金
- 测定功能性镀层的组分，如NiP镀层中的P含量
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