主要特色：
- 可整合到任何硅片分选机上
- 可调整式的演算法可供检测5"、6"以及单晶、多晶、准单晶等各种硅片
- 多样化介面选择可与不同设备或者MES系统连线
- 检测晶格尺寸的特殊光源设计
7202同时也可以检测孔洞瑕疵。而孔洞瑕疵正是造成光伏模组失效的 μ-crack或者严重local shunting的原因。
- 可整合到任何硅片分选机上
- 可调整式的演算法可供检测5"、6"以及单晶、多晶、准单晶等各种硅片
- 多样化介面选择可与不同设备或者MES系统连线
- 检测晶格尺寸的特殊光源设计
7202晶格检测范例
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