eMMC黄点测试座，是用于测试主控坏了的eMMC芯片，是转DIP48引脚，可以用于通用的flash测试大板上.

产品特点：

1. 座头采用手动翻盖测试座头结构，操作方便灵敏。

2. 座头顶盖的芯片压块采用人性化结构，下压力度平稳，保证IC的压力均匀，不偏移。

3. 探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层，接触性能稳定, 保护锡球外形。

4. 理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位精确。

5. 特殊IC载板结构，保护探针不受外力损坏。

6. 探针：进口探针，铍铜镀硬金、铑。寿命10万次以上

7.维修成本低：方便更换探针，成本低效率高。

8.高强度耐高温绝缘材料。

9.成熟加工精度范围：跳距pitch=0.38mm。

10.限位框可更换，可实现一个测试座能同时测试不同尺寸的芯片，节省成本。

11.可定制各种eMMC/eMCP测试治具（最少间距可做到0.2mm，可根据客户提供的PCB板单独设计）