功能特点 |
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- 快速检测:10-30秒可显示测量点检测数据(10分钟可以检测完成 1个pocket4角残余)
- 多点自动检测
- 无损测试,可留样重复检测
- 高精度检测
- 设备操作方便,检测稳定,可标准化作业
技术参数 | |
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产品类型 | 能量色散X荧光光谱分析设备 |
仪器尺寸 | 618*525*490mm(L*W*H) |
测量原理 | 能量色散X射线分析,样品在X射线照射下发出二次射线,通过探测器收集二次射线,利用分析软件对样品进行定性定量分析。 |
X射线光管 | 50kV,1mA 钼、铑、铑钯(高配微焦钼靶); 工作时间>18,000小时 |
检测系统 | SDD探测器,能量分辨率125±5eV(高频快速扑捉激发的金属二次射线) |
准直器 | 0.2,0.3,0.5,1,4,4mm(可选不同规格,精准定位) |
样品台可移动范围 | 前后左右各80mm、高度90mm |
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