产品描述
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能，紧凑型且通用的X射线测量仪器，非常适合无损涂层厚度测量和材料分析。XAN 250和XAN 252仪器特别适合于测量和分析薄涂层，即使其成分非常复杂或浓度很小。高性能X射线荧光测量仪，用于快速无损材料分析和涂层厚度测量。高性能X射线荧光测量仪X-RAY XAN250，高性能X射线荧光测量仪，配有**进的硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。
主要特点：
▪ 高性能机型，具有强大的综合测量能力▪ 配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片
▪ 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，还适用于更复杂的多元素分析
▪ 由下至上的测量方向，可以非常简便地实现样品定位
▪ 高性能X射线荧光测量仪X-RAY XAN250
典型应用领域：
▪ 对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量▪ 对有害物质进行痕量分析，例如，玩具中的铅含量
▪ 在珠宝和手表业，以及在金属精炼领域，对合金进行高精度的分析
▪ 用于高校研究和工业研发领域
规格参数：
| 预期用途 | 能量色散X射线荧光测量仪（EDXRF）用于测量薄涂层，痕量元素和合金 |
| 元素范围 | 铝（13）到铀（92）–同时*多24个元素 |
| 测量方向 | 自下而上 |
| X射线探测器 | 硅漂移检测器（SDD） |
| 分辨率(fwhm for Mn-Kα） | ≤ 160 eV |
| 测量点 | Ø 1.2 mm (47 mils) with aperture Ø 1 mm (39 mils)平放样品（测量距离0毫米） |
| 测量距离 | 0…25毫米（0…1英寸） |
| 样品定位 | 手动 |
| 缩放系数 | Digital 1x, 2x, 3x, 4x |
| *大样品重量 | 13 kg (29 lb) |
| 电源 | AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz |
| 外形尺寸 | 403 x 588 x 365 mm |
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