XJ4810型/XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后，VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试；可测试三端稳压管特性。

集电极扫描信号

• 输出电压范围及电流容量
  0～5V 10A（XJ4810A） 0～10V 5A
  0～50V 1A 0～100V 0.5A
  0～500V 0.1A
• 基极阶梯信号
  阶梯电流 0.2μA/级～50mA/级，分17档(XJ4810)
  0.2μA/级～100mA/级，分18档(XJ4810A)
• 阶梯电压 0.05V级～1V/级，分5档(XJ4810)
  0.1V级～2V/级，分5档(XJ4810A)

Y轴偏转系数

• 集电极电流 10μA/div～0.5A/div，分15档(XJ4810)
  10μA/div～1A/div，分16档(XJ4810A)
• 二极管电流 0.2μA/div～5μA/div，分5档
• 倍率 ×0.1

X轴偏转系数

• 集电极电压 0.05V/div～50V/div，分10档
  0.05V/div～1V/div，分5档

二族显示

• 二簇曲线左右分列显示并可左右位移

一般性能

• 适应电源 AC220V±10% 50Hz±4%
• 视在功率 约50VA（非测试状态）
• 约80VA(功率)
• 外形尺寸 320B×220H×400Dmm³
• 重量 17kg