SDD探测器的计数率和分辨率，远高于SI-PIN检测技术，分析速度快了5倍。这意味着对所有元素检测限更低，结合FP校准模式，可检测所有矿石样品。
还可分析土壤、沉淀物、岩芯等样品的化学成份。
可选台式支架确保辐射安全，对特殊样品（如袋装的）进行测量，以保护环境。
对矿石开发与含量分析进行快速、准确分析
野外操作时，自由携带，非常方便
重量 | 1.5kg | |
尺寸 | 30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H) | |
激发源 | X射线管，Ag靶，40kV | |
检测器 | XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快； 能量分辨率高：145eV, 计数率：100 kcps | |
操作系统 | HP掌上电脑：Windows 5.0 Bruker 专用软件 | |
冷却系统 | Peltier半导体冷却系统 | |
电源 | 交、直流供电；2块充电锂电池，可连续工作8-12小时 | |
工作条件 | 温度：-20℃～+55℃ 湿度：0～95% | |
电池充电器 | 交流充电器：110/220V，50/60Hz | |
计算机/显示器 | 240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏 | |
测量模式 | 牌号识别、定量分析、显示测量谱线、合格与否判定 | |
数据传输 | USB，无线蓝牙，SD卡 | |
数据存储 | 主机：512MB 存储卡：CF/SD卡，2GB，能存储几十万个光谱图谱和测量数据 | |
热表面适配器 | 热表面适配器，可测量500℃高温样品 | |
安全 | 密码保护，设有多级安全锁 | |
运输箱 | 减震、抗压、防水、密封仪器箱 | |
支持语言 | 包括中、英文在内12种语言(用户自选) | |
质保期 获得认证 | 整机2年 CE、TUV、IECEE、ISO9001 | |
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