研祥慧视机器视觉检测设备MVS-729F
研祥慧视机器视觉检测设备 MVS-729F，是业界的大尺寸液晶模组检测系统，具有检测精度高、配置灵活易用、维护简单可靠的特点，设备检测排除了检测人员的主观态度和感知差异所造成的判断误差，有助于保障产品的检测一致性，使产品质量得到可靠保障。 设备组成形态： ◆ 设备检测室（固定在产线检测工位） ◆ 信号发生装置 （固定在设备内部） ◆ 信号对接系统（对接母端固定在工装板上，随工装板流动，对接公端固定在设备上）
MVS-729F，采用高效自主算法，由高性能工业控制器、高清工业相机阵列构成，有效的提高了生产效率与保障了产品的一致性，其具有如下特征
◆ 基于*的软件开发环境、高效自主图形算法，安全、可靠
◆ 高性能工业控制器与工业相机阵列，检测效率高、精度高
◆ 方便的维护舱门、推拉装置和安全锁
◆ 定制尺寸，适于生产现场与运输
◆ 检测液晶模组的点、线、面缺陷与外观损伤
◆ 单项缺陷检测算法达到毫秒级
◆ 检测大尺寸液晶模组
◆ 可检测Mura、漏光等业内高难度缺陷
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- 资料中心
液晶模组检测技术规格表 | |||||
类别 | 项次 | 机器视觉设备选型 | |||
基本型 | 增强型 | 豪华型 | 定制项 | ||
检测指标 | 检测精度 | 像素级 | 子像素级 | 1/2子像素 | |
整体检测时间，备注 | 6s | 4s | 3s | ||
点缺陷 | 单亮点 | √ | √ | √ | |
连亮点 | √ | √ | √ | ||
碎亮点 | √ | √ | |||
单暗点 | √ | √ | √ | ||
连暗点 | √ | √ | √ | ||
聚焦暗点 | √ | √ | |||
线缺陷 | 黑线 | √ | √ | ||
白条 | √ | √ | |||
线状异物 | √ | √ | |||
面缺陷 | 黑团 | √ | √ | √ | |
白团 | √ | √ | √ | ||
气泡 | V | ||||
凹痕 | √ | ||||
异物 | √ | √ | |||
Mura | √ | √ | |||
漏光 | √ | √ | |||
外观缺陷 | 破裂 | √ | |||
划痕 | √ | ||||
Logo | √ | ||||
功能缺陷 | 闪动 | √ | |||
网纹 | √ | ||||
亮线 | √ | √ | √ | ||
暗线 | √ | √ | √ | ||
功能不良 | √ | √ | √ | ||
注：如上“√"表示支持 | |||||
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