■ 全波段光谱透过率测量,反射角分布测量
■ 全波段光谱反射率测量,反射角分布测量
■ 波长范围:200nm-IR
■ 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构
■ 双层平台独立旋转,重复定位精度0.005度,分辨率0.00125度;
■ 样品置于上层旋台,探测器置于下层旋台,样品和探测器可以任意角度工作;
■ 台面上放置一个五维调整镜座,可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台面
■ 功能扩展:测量光栅衍射效率
北京卓立汉光仪器有限公司
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光谱角分布测量系统
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■ 波长范围:200nm-IR
■ 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构
■ 双层平台独立旋转,重复定位精度0.005度,分辨率0.00125度;
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■ 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构
■ 双层平台独立旋转,重复定位精度0.005度,分辨率0.00125度;
■ 样品置于上层旋台,探测器置于下层旋台,样品和探测器可以任意角度工作;
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