技术参数：
符合ASTM,ASME磁粉检验标准的技术要求.
适用于交流和单相半波整流磁粉检验设备综合性能(系统灵敏度)试验.
说明：a)标准QQI试片
CX-230:缺陷深度为试片的30％，试片厚度为0.002英寸
CX-430:缺陷深度为试片的30％，试片厚度为0.004英寸
b)型标准QQI试片
CX4-230:小型的QQI试片，上面有4个CX-230
CX4-430:小型的QQI试片，上面有4个CX4-430
C）型标准QQI试片
3C2-234:不同深度的QQI试片，缺陷的深度分别是试片厚度的20％，30％，40％，试片的厚度为0.002英寸。
3C4-234:不同深度的QQI试片，缺陷的深度分别是试片厚度的20％，30％，40％，试片的厚度为0.004英寸。
所有评论仅代表网友意见，与本站立场无关。