Layerprobe分析样品表面和次表面层的成分和厚度。它是基于现有显微分析技术的一种无损分析的工具。与专用的薄膜测量工具相比，AZtec EDS微观分析系统中的Layerprobe速度更快、性价比更高、分辨率更高。
LayerProbe计算表面下各层的成分和厚度，完善了常规EDS分析中获得的元素和相信息。
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Layerprobe 是SEM中用于薄膜分析的一个令人兴奋的软件工具。与专用的薄膜测量工具相比，AZtec EDS微观分析系统中的选配功能Layerprobe，速度更快、性价比更高、分辨率更高。 询价 增加到询价列表 在询价列表中查看此产品
Layerprobe分析样品表面和次表面层的成分和厚度。它是基于现有显微分析技术的一种无损分析的工具。与专用的薄膜测量工具相比，AZtec EDS微观分析系统中的Layerprobe速度更快、性价比更高、分辨率更高。
LayerProbe计算表面下各层的成分和厚度，完善了常规EDS分析中获得的元素和相信息。
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