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扫描电容显微镜(SCM)是一种表征材料纳米电学性质的原子力显微镜(AFM)成像技术,它使用微波射频(RF)信号来探测半导体和其它种类样品中的电荷,载流子的位置,掺杂水平和掺杂类型(p型和n型)等。全新设计的Asylum Research SCM配件提供了比其他现有SCM模块更高的性能和能力。创新包括: 询价 增加到询价列表 在询价列表中查看此产品
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