FEl Talos™ F200X扫描/透射电子显微镜(S/TEM) 可提供*快、*准确且量化的多维度纳米材料表征。
FEl Talos F200X 的创新功能可提高通量、精度与易用性,非常适合学术界、**和工业研究环境中的高级研究与分析。
产品特点:
●更好的图像数据:
配备同步多重信号检测的高通量STEM 成像可实现更好的对比度,
●从而可提供高质量图像
更短的化学成分数据生成时间:
快速、精确且量化的 EDS 分析 可揭示纳米级细节
●为扩大应用提供空间:
添加特定于应用的原位样品杆以开展动态实验
●更高的稳定性:
采用仪器罩和远程操作来提高环境***
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