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ST椭偏仪SE500是一种利用光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器,主要用来测量薄膜材料的厚度、NK参数等性质。椭偏仪的主要原理是将自然光(紫外光、可见光以及...
AST椭偏仪SE200BA-M300是一种利用光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器,主要用来测量薄膜材料的厚度、NK参数等性质。椭偏仪的主要原理是将自然光(紫...
AST椭偏仪SE300椭偏仪是一种利用光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器,主要用来测量薄膜材料的厚度、NK参数等性质。椭偏仪的主要原理是将自然光(紫外光、可...
AST薄膜分析仪SR300系列产品来自美国AST公司,其可以实现薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的测量,同样对于材料NK参数也可以实现测量,为人们针对薄膜进行分...
AST椭偏仪薄膜分析仪SR100系列薄膜分析产品来自美国AST公司,其可以实现薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的测量,同样对于材料NK参数也可以实现测量,为人们...
AST椭偏仪薄膜分析MSP500-RTMF分析产品来自美国AST公司,其可以实现微小区域薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的测量,同样对于材料NK参数也可以实现测...
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