holmarc Variable Angle Laser Ellipsometer可变角度激光椭偏仪是一种非常灵敏的光学技术，可为薄膜计量提供的功能。椭偏仪利用...

holmarc HO-ED-P-06 可变角度激光椭偏仪是一种非常灵敏的光学技术，可为薄膜计量提供的功能。椭偏仪利用光的相位信息和偏振态，因此可以实现埃级分辨率...

holmarc HO-VALE-01 可变角度激光椭偏仪是一种非常灵敏的光学技术，可为薄膜计量提供的功能。椭偏仪利用光的相位信息和偏振态，因此可以实现埃级分辨率...

holmarc HO-A216MOE-PH 自动化薄膜测试站 磁光椭偏仪推出了一种使用VIS-NIR波长的新型创新型高灵敏度和高磁场光谱椭偏测量设备。HOLMA...

holmarc HO-A216MOE-PH 磁光椭偏仪推出了一种使用VIS-NIR波长的新型创新型高灵敏度和高磁场光谱椭偏测量设备。HOLMARC A216测试...

holmarc HO-SE-01 变角椭偏仪结合了旋转分析仪椭偏仪技术来表征薄膜样品。它使用高速CCD阵列检测来收集整个光谱。它可以测量从纳米厚度到数十微米的薄...

holmarc Variable Angle Spectroscopic Ellipsometer变角光谱椭偏仪结合了旋转分析仪椭偏仪技术来表征薄膜样品。它使用...

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holmarc HO-A216MOE-PH 磁性材料表征椭偏仪推出了一种使用VIS-NIR波长的新型创新型高灵敏度和高磁场光谱椭偏测量设备。HOLMARC A2...

holmarc Spectral characteristics of LED光谱特性光栅光谱仪由全息凹面衍射光栅和一维CCD检测器阵列组成。它具有出色的热稳定...

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holmarc LOE-03 表征光学材料Z-Scan system是一种简单且流行的实验技术，用于测量材料的强度相关非线性磁化率。Holmarc的Z扫描系统（...

holmarc LOE-03 表征光学材料Z扫描系统Z扫描技术是一种简单且流行的实验技术，用于测量材料的强度相关非线性磁化率。Holmarc的Z扫描系统（型号：...

光电设备Electronics Characterization用于表征光电组件。光电学是与光相互作用的电子设备的研究和应用。光电设备是电光/光电转换器或仪器。...

holmarc HO-ED-LOE-02 光电设备-电子特性用于表征光电组件。光电学是与光相互作用的电子设备的研究和应用。光电设备是电光/光电转换器或仪器。这些...

holmarc HO-ED-LOE-01A 激光光束轮廓仪是基于CCD的高精度（用于VIS / NIR）设备，可与波长在340nm至1100 nm之间的激光器一...

holmarc Apparatus for Laser Beam Profile Analysis激光束轮廓分析仪是基于CCD的高精度（用于VIS / NIR）...

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