TF200-DUV反射式膜厚测试仪探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时...

Leica 全自动临界点干燥仪 EM CPD300以及如微型机电系统（MEMS：Micro Electro Mechanical Systems）等样品的干燥，...

FEG系列" 场发射环境扫描电子显微镜Quanta FEG系列场发射环境扫描电子显微镜是FEI公司的新产品之一。是在FEI公司*产品XL30 ESEM-FEG场...

FEI “Quanta系列"环境扫描电子显微镜"FEI公司一代的、真正的多用途扫描电镜，是*的Quanta产品家族的第三代产品。

FEI “Q系列"扫描电子显微镜是较经济、高效的高分辨成像和分析应用的解决方案。在设计上侧重易用性、Q25可以让用户迅速得到他们所需的数据。

赛可 3200M 经济型台式扫描电镜是专门从事开发生产X-RAY检测设备和扫描电子显微镜（SEC）的检测设备研发制造公司

薄膜厚度测定仪利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干...

薄膜厚度检测仪利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干...

薄膜厚度仪利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光...

薄膜厚度测量仪DeltaDelta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收...

Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。Delta根据...

贝拓白光干涉薄膜厚度测量仪Delta根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100...

透明薄膜测厚仪根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以...

白光干涉仪根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量...

白光干涉测厚仪根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以...

Te系列 -测试粒子该测试粒子主要应用与通用实验。它所含的固相粒子浓度高达5%，粒径分布窄（CV值为5%-10%），指标较当前 LS, HS 和 Pu系列单分散...

标准粒子计数套件- PC系列这些现成的工具包包含空白比照和粒径均一的球形颗粒悬浮液以及使用说明书。你可根据说明书直接以直接检查是否一个粒子计数器计数准确。

油性标准粒子ISO-MTD2.8- Oi系列新的ISO-MTD2.8标准粒子名义为61000个粒子每10毫升（≥4μm），粒子悬浮在超净液压油中以便根据ISO ...

三维各向异性标准粒子形状参考粒子有两种包装形式，即100毫克的粉末和3.0毫升的水/乙醇悬浮液。保质期是12个月，的产品不能用于诊断或治疗,仅供实验室使用。

EKO Dispeizer DS-1 粒度分布分析器是一个强大的、可靠的和易于使用的粒度分布分析仪提供了可靠和可重复的结果集中,浑浊的,彩色或粘稠乳液。