分析X-RAY镀层测厚仪的工作原理及特点

2022

07-01

18:30:01

 1157

来源：上海精诚兴仪器仪表有限公司

　　X-RAY镀层测厚仪是一种多功能实用型便携式测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过使用不同的测头，还可满足多种测量的需要。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业*的仪器。

　　X-RAY镀层测厚仪的工作原理：

　　镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

　　X-RAY镀层测厚仪主要特点：

　　1、M4 TORNADO采用了全新的技术，为各种用户提供了蕞佳的分析性能和非常方便的操控性。

　　2、采用多导毛细管聚焦镜，照射光斑蕞小，空间分辨率蕞高。

　　3、采用无标样分析法定量分析块状样品，分析多层膜样品。

X-RAY镀层测厚仪

　　4、使用XFlash®探测器超高速地获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步提高测量速度。

　　5、涡轮增速X-Y-Z样品台，借助放大倍数可变的摄像系统获得高品质的样品影像，可在“飞行中”进行元素分布分析。

　　6、高强度的X射线光管与多导毛细管聚焦镜相结合，确保在非常小的照射区域内获得非常高的激发强度。采用滤光片和可以同时使用的配有不同靶材的双光管，可以根据不同的分析要求，优化激发光谱。

　　7、可抽真空的样品室配有自动门，大尺寸的样品室可以放置各种尺寸的样品。通过两个放大倍数可变的摄像系统观察样品，便捷进样功能和自动对焦功能可以进行快速而的定位。通过用户编辑的X-Y-Z样品台运行程序可实现重复测量。

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