表面的反射会影响红外测温的读数

2021

12-09

13:02:00

 394

来源：FLIR中国总部菲力尔中国（前视红外光电科技（上海）有限公司）

　　红外测温由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统是将目标物体辐射出的红外能量汇聚起来，聚焦在光电探测器上，并转变为相应的电信号，再经过电路运算处理电路后，换算转变为被测目标的线性的温信号值，以便实现进一步的信号处理及控制。

　　任何物体只要红外测温的温度高于零度，就有热辐射向外部发射，物体温度不同，其辐射出的能量也不同，且辐射波的波长也不同，但总是包含着红外辐射在内，千摄氏度以下的物体，其热辐射中较强的电磁波是红外波，所以对物体自身红外辐射的测量，便能准确测定它的表面温度，这就是红外测温测温依据的客观基础。

　　当测量发光物体表面温度时，如铝和不锈钢，表面的反射会影响红外测温的读数。在读取温度前，可在金属表面放一胶条，温度平衡后，测量胶条区域温度。

　　要想红外测温可从厨房到冷藏区来回走动仍能提供的温度测量，就要在新环境下经过一段时间以达到温度平衡后再测量。较好将测温仪放在经常使用的场所。

　　用红外测温读取流体食品的内部温度，像汤或酱，必须搅动，然后就可测表面温度。使测温仪远离蒸汽，以避免污染透镜，导致不正确的读数。

　　为何采用红外测温？

　　红外测温采用红外技术可快速方便地测量物体的表面温度。不需要机械的接触被测物体而快速测得温度读数。只需瞄准，按动触发器，在LCD显示屏上读出温度数据。

　　红外测温重量轻、体积小、使用方便，并能可靠地测量热的、危险的或难以接触的物体，而不会污染或损坏被测物体。

　　红外测温每秒可测若干个读数,而接触测温仪每秒测量就需要若干分钟的时间。

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