仪器厂商：美国J.A.Woollam公司
型 号：M-2000DI
到货日期：2008.4.19
技术指标：
● 波长范围：190~1700 nm
● 光谱分辨率：1.6 nm（波长小于1000 nm）；3.7 nm（波长大于1000 nm）
● 自动入射角范围：45~900
● 自动样品台：150 mm*150 mm
● 旋转补偿器，Ψ可测范围0~900，Δ可测范围0~3600
主要用途：
用于单层或多层透明或半透明薄膜的厚度和光学常数的测定，广泛应用于物理、化学、材料、生物、高分子、光学镀膜、太阳能电池、平板显示等领域的研究。
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