叶片光谱探测仪
叶片光谱探测仪CI-710系列之叶片光谱分析仪CI-710功能强大，可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱；通过光谱可以定性、定量的研究叶片内各组分叶绿素a或b、蛋白质、糖、矿物质等含量及比例变化；直观的光谱图像和现场数据存储；为植物叶片光合作用、植物遗传特性、植物胁迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段。
仪器特性
非常便携，适合于室内或野外使用
非破坏灵敏度高
USB接口连接UMPC数据处理终端
样品类型，叶片或扁平的物体
样品类型，叶片或扁平的物体
技术参数
测量参数：非破坏性测量叶片在400~1000nm波 长范围内的透射率、吸收率和反射率
样品类型：叶片或扁平的物体
检测器：CCD线性阵列探测器
扫描波长范围：400～1000 nm
采样速度：3.8ms-10s
光偏离：＜0.05%在600nm;0.10%在435nm
分辨率：0.3～10.0nm FWHM
采样直径：7.6 mm
线性修正：>99.8%
*配有CI-700LP叶夹
尺寸：89.1 x 63.3 x 34.4 cm
*重量：290G产地：美国CID公司
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