产品简介：8XB正置（明暗场）芯片检查显微镜广泛应用于透明、半透明、不透明物质（如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层）等材料表面的结构、痕迹检测，拥有很好的成像效果。
| 产品型号 | 8XB正置（明暗场）芯片检查显微镜 | ||
| 主要特点 | 1、采用高分辨率、长工作距离无限光路校正系统物镜成像技术。 2、拓展了物镜的复用技术，无限远物镜与所有观察法相兼容，包括明暗视野法、偏光法，并在每一观察法中均 提供高清晰的图像质量。 3、采用非球面Kohler照明，增加观察亮度。 | ||
| 技术参数 | 1、镜筒：倾斜30° 2、高眼点目镜：倍率10×，视场范围25mm 3、无限远长工作距离明暗场物镜：倍率5×、10×、20×、40×，数值孔径0.10、0.25、0.40、0.60，工作距离 29.4mm、16mm、10.6mm、5.1mm 4、物镜转换：五孔转换器 5、调焦机构：粗、微动同轴调焦，微动格值0.002mm，调焦范围36mm 6、工作台：双层移动平台，尺寸311mm×352mm，移动范围250mm×250mm 7、照明：垂直照明，12V/100W卤素灯，带孔径光阑和视场光阑，亮度可调节 | ||
| 标准配件 | 1 | 目镜筒 | 1只 |
| 2 | 目镜（10×） | 1对 | |
| 3 | 无限远长工作距离明暗场物镜（5×、10×、20×、40×） | 各1只 | |
| 可选配件 | 1、12.5×目镜 2、10×测微镜（测微尺格值0.01mm） 3、无限远长工作距离明暗场物镜（40×、100×干） | ||
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