英国泰勒霍普森CCI非接触式光学轮廓仪
无论对分析速度的要求有多高,我们创新的CCI光学装置非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 高分辨率相机与1/10埃垂直分辨率相结合,无论是测量非常粗糙的表面,还是测量极其光滑的表面,都能获得令人不可思议的详细分析。
CCI光学装置与光学研究人员和科学家的知识保持与时俱进,能满足光学领域的严苛测量要求。 CCI光学装置将强大的尺寸及粗糙度分析软件与的工程设计融于一体,是一种非常适合用于粗糙度测量的检验工具。 CCI的薄膜厚度测量功能,进一步完善了为光学工业而设计的出色计量包装 。
- 2048 x 2048像素阵列,视场广,高分辨率
- 全量程0.1埃的分辨率
- 轻松测量反射率为0.3% - 99%的各种表面
- RMS重复<0.2埃,阶跃高度重复<0.1%
- 多语言版本的64位控制和分析软件
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