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探针式影像测量仪,二次元测量仪

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参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号:
  • 品牌:
  • 产品类别:影像测量仪
  • 所在地:
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  • 样本:
  • 更新时间:2023-09-24 12:46:43
  • 浏览次数:12
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  • 联系人:朱先生
  • 电    话:13335841775
产品简介

主要特点采用英国RENISHAW测头可实现部分三维尺寸接触式测量、实现三维几何尺寸的测量。影像+探针的测量方式 ,充分解决几何测量中的难题。采用“HIWIN"P级直线导轨和精密V型滚珠导轨,保证机器精度及使用寿命。立柱和底座采用坚实的花岗岩结构、稳定可靠。配备SBK-EP多功能3D测量软件,自动寻边,程控光源。配备可移动可拆卸的仪器专用桌。高清卡位变倍镜头和高分辩率CCD,实现产品高清晰度测量。测......

详情介绍

E P系列技术参数

型号

EP200

EP300

EP400

测量范围(mm)

200x100x200

300x200x200

400x300x200

外型尺寸(mm)

750*1300*1500mm

750*1300*1500mm

900*1400*1500mm

重量(kg)

160

170

250

承重(kg)

20

25

25

 

测量精度(μm): 3+L/200

重复精度(mm):0.003

测量方式:影像+探针

光栅尺: 1.0μm分辩率开放式玻璃光栅尺

图像传感器CCD: SBK-HC536   1/3英寸600线工业彩色相机

导轨: Z轴:“HIWIN"P级直线导轨      X、 Y轴:精密V型导轨

光学系统: 6.5:1连续变倍卡位镜筒

放大倍率: 光学放大倍率:0.7-4.5X;影像放大倍率:24-158X

软件: SBK-EP手动3D测量软件

轮廓光源系统: LED冷光源,256级亮度程控可调

表面光源系统:48颗LED冷光源,256级亮度程控可调

数据控制: SBK-3000专用数据控制器、USB接口、软件调节光源亮度

测头系统:英国“RENISHAW"MCP测座

操作方式: 手动

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