新款全自动压汞法测试装置 返回列表页

一、测试原理：

压汞法孔隙度测试分析技术是基于在精确控制的压力下将汞压入孔结构中的方法实现的。除高速、精确及分析范围广等优点外，压汞仪还可得到样品众多特性，例如：孔径分布、总孔体积、总孔比表面积、中值孔径及样品密度（堆积密度和骨架密度）。

孔隙度通常包括材料孔径、孔体积、孔径分布、密度和其他孔隙度相关特性的测量。孔隙度对于了解物质组成、结构和应用是非常重要的。材料的孔隙度影响其物理属性从而影响其在周围环境下的行为，影响材料的吸附性和渗透性、强度、密度和其他性质。

二、性能参数：

1. 孔直径测试范围：30nm至600μm ；

2. 孔隙体积测试范围：0.3-3.5cc ；

3. 测量精度：≤ 0.5% ;

4. 分析站：1个独立样品分析站，样品室*体积15cc ；

5. 工作压力范围：0.01-50Mpa，采用双路压力测量技术 ；

6. 试验压力：60Mpa ；

7. 静压力头: ≤20mmHg ；

8. 空白值: 50Mpa时约0.25ml ；

9. 具有严格的汞安全防护措施，有效避免汞蒸气对室内环境的影响 ；

10. 真空泵：双极机械真空泵，极限真空度0.05Pa ；

11. 分析模型：累计总孔体积、累计比表面积、平均孔径、孔径分布（孔隙度）曲线、孔喉比、注汞/退汞曲线等等；

12. 样品类型：固体颗粒样品或块状固体样品；

三、产品特点：

GCGY200型压汞仪主要由真空系统样品室系统、加压系统、测量控制系统四部分组成。

1. 真空系统：主要是由一台双级泵和真空传感器组成，极限真空度为 0.05Pa；

2. 样品室系统：耐高压、耐真空，空白值小，测量精度高，稳定性强。利用重力差原理，在正压环境下进行压力测量技术，方便、适用，保证了整个试验的连续性、稳定性、可靠性和完整性。

3. 加压系统：可为测试过程提供0-50Mpa（7250psi）压力，可无级调速控制泵速度的快慢及加退压。

4. 测量控制系统：由压力测量、电容测量、真空测量三部分组成。压力测量由两路压力变送器和数字压力表来完成压力的计量。电容测量是由电容仪电容变送器和数字显示器来完成。真空测量是由真空硅利用热偶原理实现对样品室内真空度的测量。

5. 具有严格的汞安全防护措施，有效避免汞蒸气对室内环境的影响 。

试样应覆盖整个测量电极表面。然后将电极调到合适的间距，上下电极之间的间距应以试样占间距的80%左右时为宜。轻轻抽动试样，接好测量引线，平衡电桥，测量并记录此时的电容G和介质损耗因数值tan&以及电极间距为。轻轻抽出试样，保证上下电极间的相对位置不变。按4.1«定测量试样厚度上。采用不接触电极法测量弓和tand,改变电桥电容，而不改变电极间的间距的测量方式时，材料的相对电容率；有试样时测得的电容值，单位为微法（gO；无试样时测得的电容值，单位为微法WF）；电极之间的间距，单位为微米（》m）；试样叠层厚度，单位为微米（rm）。tanS—材料的介质损耗因数；ta展一一有试样时测得的介质损耗因数值；4——电极之间的间距。

M——试样叠层厚度，按GB/T1409—2006的5.L2.2.2规定进行室温下介电常数的测量。适用于卷绕电容器介质用薄膜或对方法1来说太薄的薄膜。卷制机:能卷绕模型电容器，对薄膜的卷绕张力为2.5N±0.5N；压紧装置;能提供均匀的不小于3000N的压力，压紧面积100mmXlOOmm。试样为压扁的模型电容器元件,采用铝精突出型结构，极间介质为单层或双层被试薄膜，容量视电桥量程而定，通常应不小于0.5xF,模型电容器元件如I铝精电极;2―薄膜。图9测■介质损耗因数和电容率试样结构示意在被试薄膜卷上分切60mm〜80mm宽的试样两卷，将厚度约为760mm〜80mm宽的铝箔卷两卷。然后将它们安装在卷制机上。

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