简介
SM241是一款基于CCD探测器的紧凑型光谱仪，专为NIR近红外激光应用而设计。 在CCD探测器上进行镀膜涂层从而打破了标准硅基CCD探测器阵列在1100nm以上的灵敏度限制，允许光谱响应范围拓展至1650nm。该技术使SM241成为基于锗Ge或铟镓砷InGaAs光谱仪成本更低的替代品。
SM241采用的光机平台包括超大镀金平面镜和专用光栅，以适应NIR近红外光的收集和分析。该光谱仪的光谱覆盖范围为900 nm 至 1650 nm（缩小900-1650 nm范围内的覆盖窗口尺寸将有助于提高光谱分辨率和光灵敏度）。但尽管 SM241 可以测量到 1650nm，但由于其灵敏度较低，因此SM241于在应用中使用在此NIR范围内测量非常窄的带宽和强光，如激光。
标准接口包括一个USB 2.0接口和具有16位扩展动态范围的PCI卡接口。软件支持，包括用于专用应用程序开发的 SDK 和 DLL 以及基于SM32Pro Windows的光谱采集和分析软件。标准和传统接口设计均支持高级采集编程和外部触发功能。
特点
- 锗Ge或 铟镓砷InGaAs 光谱仪的高性价比替代品
- 2048像素，具备较高的像元分辨率
- 紧凑型系统可以手持或固定安装后使用
- 灵活的光输入：自由空间光或通过光纤
- 高性能的电路
- 允许在900 - 1650nm之间进行光谱测量
- 提供16位动态范围的USB 2.0接口
- 支持多达8个通道测量
技术参数
物理参数 | |
尺寸 | 121mm x 121mm x 54mm |
重量 | 0.7Kg |
光纤连接器 | SMA905, NA=0.22 |
探测器参数 | |
探测器 | Sony ILX511 (IR增强镀膜涂层) |
光谱响应范围 | 900 - 1650nm |
像素数 | 2048 |
像元尺寸 | 14um X 200um |
井深 | 62,500 e- |
光学参数 | |
光学分辨率 | <2nm （使用10um狭缝） |
暗噪声RMS | <50 RMS counts @ 35ms |
信噪比 | 250 : 1 |
线性度 | <0.1% 平均 |
电学参数 | |
A/D分辨率 | 16bit |
最小积分时间 | 1ms |
接口 | USB 1.1 或 USB2.0 （供电） |
电脑参数需求 | |
操作系统 | Windows XP / VISTA / Win7 / Win8.1 / Win10 (32/64bit) |
软件 | 专用软件已包含，可提供Visual C++ DLL /LabVIEW VI SDK二次开发包 |
外形尺寸图
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