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上海隆拓仪器设备有限公司
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产品介绍
CH-1-ST型薄膜测厚仪，薄膜测厚仪，生产薄膜测厚仪，上海薄膜测厚仪
CH-1-ST型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。
本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。：
CH-1-ST型薄膜测厚仪技术参数：
◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm
◎上测头曲率半径:15-50mm
◎测头对试样施加负荷:0.1-0.5N
◎测量精度: 100vm以内 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm
◎执行标准:GB6672-86
◎本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）.
上海隆拓专业生产： CH-1-ST型薄膜测厚仪，薄膜测厚仪，生产薄膜测厚仪，上海薄膜测厚仪
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