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快速温变化试验箱是产品在设计强度极限下，运用温度加速技巧（在上、下限极值温度内进行循环时，产品产生交替膨胀和收缩）改变外在环境应力，使产品中产生热应力和应变，透过加速应力来使潜存于产品的瑕疵浮现[潜在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工艺瑕疵]，以避免该产品于使用过程中，受到环境应力的考验时而导致失效，造成不必要的损失，对于提高产品出货良率与降低返修次数有显着的效果，另外应力筛本身是一种制程阶段的过程，而不是一种可靠度试验，所以应力筛选是100％对产品进行的程序。
快速温变化试验箱产品特点：
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规范要求： | a.可设定多种应力筛选（快温变率） 5℃/min、10℃/min、15℃/min的试验条件 |
b.满足电子设备产品应力筛选、无铅制程、MIL-STD-2164、MIL-344A-4-16、MIL-2164A-19、NABMAT-9492、GJB-1032-90、GJB/Z34-5.1.6、IPC-9701...等试验要求 | |
c.可执行等均温与平均温试验方式 | |
| d.采用铝片验证机台负载能力（非塑料负载） | |
创新&特色： | a.单一机台可执行可执行快速温变（应力筛选）、结露试验、高温高湿、温湿度循环等试验 |
b.可筛选待测品负载数量大 | |
控制器创新： | a.内建双向USB2.0随身碟储存接口（可拷贝试验曲线与加载试验程序） |
b.完整实时试验曲线分析显示，无时间限制 | |
| c.可与e化管理系统进行整合监控 |
试验条件：
| 产品&规范 | 厂商名称 | 高温 | 低温 | 温变率 | 循环数 | 循环 时间 | 备注 |
| MIL-STD-2164、GJB-1032-90 电子产品应力筛选 | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 5℃/min | 10～12 | 3h20min | ||
| MIL-344A-4-16 电子设备环境应力筛选 | 设备或系统 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | ||
| MIL-2164A-19 电子设备环境应力筛选 | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 10℃/min | 10 | 驻留时间为内部达到温度10℃时 | ||
| NABMAT-9492 美军*制造筛选 | 设备或系统 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | 驻留时间为内部达到温度5℃时 | |
| GJB/Z34-5.1.6 电子产品定量环境应力筛选 | 组件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | 达到温度稳定的时间 | |
| GJB/Z34-5.1.6 电子产品定量环境应力筛选 | 设备或系统 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | 达到温度稳定的时间 | |
| 笔记型计算机 | 主机板厂商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min |
技术规格：
| Models （系统型） | BT-K408 | BT-K800 |
| 内容积 （Inside capacity） / 公升（Liter） | 408 L | 800 L |
| 内箱尺寸 （Inside dimensions（W．D．H）cm） | 60*80*85 | 100*80*100 |
| 外箱尺寸 （Outside dimensions（W．D．H）cm） | 141*221*220 | 181*234*235 |
| 温度冲击范围 （Shock range） | -40℃～125℃ | |
| 温度变化范围 （Ramp rang） | 3℃～15℃/min | |
| 驻留时间 （Dell time） | 30min | |
| 静态重量 （Kg）（Static load weight） | 30kg 以下 | |
| 预备时间 （Precooling time） | RT~-70℃:80min | |
| 温度稳定度 （Temperature stability ℃） | ±0.5℃ | |
| 升降温斜率波动度（Fluctuation for ramp up/down） | ±3.0℃（空载下） | |
| 分布均匀度 （Temperature uniformity ） | ±2.0℃（空载下） | |
| 设备噪音值 （Noise） | 70dB 以下 | |
※以上规格仅供参考，请以本公司报价为主，zui终解释权归公司所有
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